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專注光譜分析
光譜分析設(shè)備產(chǎn)品生產(chǎn)家18962188051
X射線熒光光譜儀EDX9000B分析測定碳酸鹽巖石中主次痕量元素
采用粉末樣品壓片制樣,碳酸鹽巖石標樣及人工合成標樣為標準,使用經(jīng)驗系數(shù)法及散射線內(nèi)標法校正元素的吸收增強效應(yīng),用X射線光譜儀EDX9000B對碳酸鹽巖石試樣中的Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Ba,Pb,La,Ce和Th等30種主次痕量元素進行測定,其分析結(jié)果與標樣標準值(或化學法值)符合較好,方法的精密度(RSD,n=10)<10%(除含量在檢出限附近的元素外),各元素檢出限基本滿足化探要求
聯(lián)系人：張經(jīng)理
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