X射線熒光光譜法分析高純鎂砂

以淀粉做粘結(jié)劑,采用粉末壓片,硼酸鑲邊墊底的制樣方法,用能量色散X射線熒光光譜儀測(cè)定高純鎂砂中的SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3,MgO采用差減法計(jì)算,本法分析速度快,測(cè)量精密度好,測(cè)量結(jié)果與濕法化學(xué)和熒光熔片法分析結(jié)果相符

ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過(guò)程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。

EDX9000B專注于對(duì)地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作簡(jiǎn)單，分析性能出色，同時(shí)還可拓展到以下應(yīng)用

>塑膠及有機(jī)物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤(rùn)滑油監(jiān)測(cè)，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有：

•無(wú)需或者很少的樣品制備，全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果

•強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應(yīng)的影響

•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測(cè)器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測(cè)試靈敏度和準(zhǔn)確性，同時(shí)在測(cè)試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高

•友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測(cè)試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識(shí)別信息后即可開(kāi)始測(cè)量。

軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。

EDX9000B已在工廠預(yù)安裝了軟件并進(jìn)行了數(shù)據(jù)標(biāo)定，客戶運(yùn)行軟件即可立刻開(kāi)始測(cè)試。無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定。強(qiáng)大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性，半定量和定量分析，不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線

>可定制化測(cè)試報(bào)告，一鍵打印

磁鐵礦樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告