XRF能量色散光譜儀應(yīng)用于地球化學(xué)樣品的成分分析

EDX9000B應(yīng)用于地球化學(xué)樣品的成分分析

隨著地球勘查工作的發(fā)展和區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查工作的啟動(dòng),對(duì)地質(zhì)實(shí)驗(yàn)測(cè)試分析工作提出很多針對(duì)性要求,同時(shí)也面臨著復(fù)雜的分析檢測(cè)任務(wù).地質(zhì)實(shí)驗(yàn)室分測(cè)試析的對(duì)象和任務(wù)要求分析測(cè)試方法具有檢出限低,檢測(cè)范圍寬,較高的準(zhǔn)確度和精密度.地球化學(xué)樣品的成分分析方法有傳統(tǒng)的化學(xué)分析法,電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES),電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS),原子吸收光譜(AAS),X射線熒光光譜(XRF)法等.化學(xué)分析法雖然使用儀器簡(jiǎn)單,但對(duì)操作技術(shù)的要求高,操作比較繁瑣,使用大量的酸堿等化學(xué)試劑,分析流程較長(zhǎng),很難滿足日常生產(chǎn)的需求.同樣ICP-AES,ICP-MS,原子吸收光譜法在樣品前處理過(guò)程中也常用大量化學(xué)試劑,造成環(huán)境污染.X射線熒光光譜儀EDX9000B具有樣品前處理簡(jiǎn)單,分析周期短,重現(xiàn)性好,可同時(shí)測(cè)定多元素,測(cè)試成本低等優(yōu)點(diǎn).由于XRF是表面分析技術(shù),X射線的強(qiáng)度隨著樣品的粒度和樣品不均勻而變化產(chǎn)生顆粒效應(yīng),地質(zhì)化探樣品成分復(fù)雜,組分含量低,樣品很難磨碎到500目以下,在粉末壓片XRF法中影響了測(cè)定的準(zhǔn)確度和精密度.因此我們通過(guò)玻璃熔片法很好的解決了基體效應(yīng)及礦物效應(yīng)對(duì)測(cè)試的干擾，獲得了良好的檢測(cè)準(zhǔn)確度和檢出限。