能量色散X熒光光譜測金儀分析鑒別假金假珠寶

EDX6000D能量色散X熒光光譜測金儀分析鑒別假金假珠寶

隨著金價飛漲，假金條成為貴金屬行業(yè)的難題。現(xiàn)代假貨的外觀和感覺就像真品一樣，如果您沒有合適的工具，識別假金條是一項挑戰(zhàn)。英飛思科學開發(fā)了一種兩步式解決方案來快速輕松地檢測假金條。

第1步：

用X射線熒光(XRF)測金儀測試金條的外部。XRF測金儀 將通過直接測量金和微量元素（包括銀、銅、鎳、鉑、鈀、銥和任何其他通常與金形成合金的元素）來確定金條的純度。我們的分析儀易于使用的軟件可以顯示黃金百分比、克拉或成色。如果可能存在鍍金，板警報功能會通知用戶。XRF熒光光譜儀的原理主要是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行， 內(nèi)層電子（如K 層）在足夠能量的X 射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L 層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X 射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X 射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光光譜儀(XRF測金儀)

第2步：

使用我們的密度儀儀器測試金條的整個密度，以幫助確保它始終是“真實的"。高品質(zhì)的贗品可能外面有真金，但里面可能裝滿了更便宜的金屬。密度儀可以幫您輕松鑒別內(nèi)部不是純金的假金或者假珠寶。

密度法原理是根據(jù)阿基米德原理測定樣品在空氣中的質(zhì)量除以其體積得到被測樣品的密度，再根據(jù)首飾中可能含有雜質(zhì)元素的密度和黃金的密度計算出首飾中金的純度。

密度法的優(yōu)點為分析速度快，樣品無損，儀器及測定成本低。單純的密度法僅適用于組分簡單的首飾; 對于組分復雜的首飾，密度法有較大的誤差，需與其他方法聯(lián)用，而最常見的聯(lián)用方法為 X 熒光光譜法。密度法有一定的局限性，要求被測樣品表面非常光滑，無飛毛邊刺和裂紋狹縫。若樣品內(nèi)部存在空心、氣泡等情形，則密度法更加不適用; 而這類問題在黃金熔煉、澆鑄過程中是較為普遍的。另外，對于表面鍍層樣品以及摻銥、鎢、鉛的樣品，由于金屬銥、鎢、

鉛的密度與金非常接近或更大，這類物質(zhì)在故意作假的黃金首飾特別是在金條中容易出現(xiàn)，它們不是均勻與基體材料混合，即使與 X 射線熒光法聯(lián)用也很難識別，因此該方法黃金純度檢測有很大的誤差和風險

EDX6000D測金儀的優(yōu)點包括

>準確：精準測量千足金萬足金和K金

>快速分析: 最快10秒出結(jié)果

>無損：測量*不會破壞樣品

>無需每天重復標定，快速分析，簡單易用

>一次分析所有貴重金屬元素金，銀，鉑，鈀，銠

>雜質(zhì)及有害元素測量包括鎳，銅，鋅，鉛，銥等

>很高的性價比