簡(jiǎn)述XRF熒光光譜合金分析儀常用的三種測(cè)量方法

　　XRF熒光光譜合金分析儀是用于銅合金及其合金材料中硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素分析的三通道光電分析儀。這一儀器在技術(shù)基礎(chǔ)上，采用了“智能動(dòng)態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”等*技術(shù)，使傳統(tǒng)的儀的日常調(diào)整和標(biāo)樣曲線的建立方法起了根本性的變化，現(xiàn)已大量地應(yīng)用在冶金、機(jī)械、化工等三班倒連續(xù)作業(yè)以及雜技上對(duì)固定的場(chǎng)合，如爐前、成品來(lái)料化驗(yàn)等。

 

　　該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長(zhǎng)準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶(hù)自建譜庫(kù)并進(jìn)行檢索。

 

　　今天小編要與大家分享的是XRF熒光光譜合金分析儀所常采用的三種測(cè)量方法：

 

　　1、時(shí)間延遲法：由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過(guò)程（即從高能級(jí)的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級(jí)的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長(zhǎng)短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測(cè)器的快門(mén)一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開(kāi)始對(duì)熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測(cè)固體、液體的熒光時(shí)，光路無(wú)法90°布置，這時(shí)需要通過(guò)延遲采樣時(shí)間來(lái)分離出熒光。

 

　　2、濾波法：從熒光產(chǎn)生原理可知，熒光的波長(zhǎng)大于激發(fā)光的波長(zhǎng)。我們?cè)谔綔y(cè)器前面放一個(gè)長(zhǎng)通濾波片，它的截至波長(zhǎng)稍大于激發(fā)光波長(zhǎng)。這樣，只有熒光才能被探測(cè)器采集。該法的另一個(gè)好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

 

　　3、90°布置法：激發(fā)光和探測(cè)器90°方向布置。由于熒光沒(méi)有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測(cè)器放在與激發(fā)光成90°的位置來(lái)接收熒光。大部分的熒光測(cè)量裝置都采用此方法（同時(shí)常常配上其它方法）。