熒光光譜測(cè)金儀

熒光光譜測(cè)金儀EDX6000D特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：

全新設(shè)計(jì)的X射線直射樣品角度，避免樣品形狀對(duì)戒指或項(xiàng)鏈等彎曲樣品的最終結(jié)果的影響。

圖1-1 EDX-6000X射線角度圖1-2正常X射線角度。

>ESI EDX-6000設(shè)計(jì)緊湊，占用空間極小。

>用于分析的小點(diǎn)準(zhǔn)直器；能夠在0.5mm、1mm和3mm直徑的光斑之間自動(dòng)切換。使其更容易并適用于不同的應(yīng)用程序。

>一個(gè)易于使用的分析儀，只需按一下按鈕即可提供克拉和成分分析結(jié)果。

>快速輕松地創(chuàng)建結(jié)果證書。

>ESI EDX-6000可以聯(lián)網(wǎng)，以便在生成測(cè)試結(jié)果時(shí)輕松訪問它們。

>分析儀是一個(gè)安全可靠的封閉光束系統(tǒng)，需要最少的培訓(xùn)。

>一鍵式操作提供最友好的客戶體驗(yàn)。

使用ESI EDX-6000 XRF分析儀：

>快速準(zhǔn)確地為現(xiàn)金換金件定價(jià)

>識(shí)別和表征各種合金，包括銀、鉑等

>鑒定樣品中的有毒元素

>管理精煉和熔化操作的質(zhì)量控制

>涂層厚度測(cè)量的更多選項(xiàng)

典型應(yīng)用：

• 金克拉鑒定

• 涂層厚度測(cè)量

• 有害金屬檢驗(yàn)：Cd、Pb、Ir、Ru

• 電鍍液分析

熒光光譜測(cè)金儀ESI EDX-6000 XRF規(guī)格：

緊湊型專業(yè)貴金屬檢測(cè)解決方案

ESI EDX-6000提供了兩全其美的優(yōu)勢(shì)。一款適合消費(fèi)者陳列室環(huán)境的漂亮分析儀，它也可以聯(lián)網(wǎng)以實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)力的 QA/QC 工作。 ESI EDX-6000可以輕松運(yùn)輸?shù)叫枰獪y(cè)試的任何位置。

集成攝像頭指示樣品分析點(diǎn)

安全的閉束XRF系統(tǒng)

50WX射線管，1000µA 電流（最大值），加上優(yōu)化的光束設(shè)置以進(jìn)行準(zhǔn)確分析

優(yōu)化校準(zhǔn)的一鍵式操作軟件，包括FP和EC方法

EDX-6000具有無(wú)標(biāo)準(zhǔn)的基本參數(shù)和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)校準(zhǔn)，可針對(duì)不同的貴重合金（金、銀、鉑、鈀）進(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。定制的結(jié)果和報(bào)告證書，包括分析結(jié)果、測(cè)試樣品的圖像、公司徽標(biāo)等，可以通過可選的PC軟件單擊按鈕生成。

ESI EDX-6000 6000測(cè)試性能

ESI EDX-6000 認(rèn)證金合金標(biāo)準(zhǔn)中金的準(zhǔn)確度

ESI EDX-6000 在認(rèn)證金合金標(biāo)準(zhǔn)中的Pt精度