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      當前位置:首頁   >  產品中心  >    >  礦產分析儀  >  EDX-9000B PLUSEDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀

      EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀

      簡要描述:ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(勘探、開采、品位控制),工業礦物,
      生產水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。EDX9000B plus優異的線性動態范圍,可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。
      具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物

      • 產品廠地:蘇州市
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-10-29
      • 訪  問  量:23798

      詳細介紹

      品牌英飛思行業專用類型地質巖礦
      重復性0.01%能量分辨率125eV
      分析含量范圍1ppm-99.99%元素分析范圍Na-U
      價格區間30萬-50萬儀器種類臺式/落地式
      應用領域環保,地礦,能源,建材/家具,道路/軌道/船舶探測器FSDD

      EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer

      能量色散X熒光光譜儀

      礦產礦石專用分析儀

       

       

      Simply the Best

      >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

      >真空光路配備薄膜濾光片技術,提高輕元素檢出限

      >可同時分析40種元素

      >可分析固體,液體,粉末和泥漿

      >進口X光管管芯提供可靠樣品激發性能

      >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結果)

      >無需化學試劑,無耗材,更環保,更高效

       

      產品特點

      1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

      2.可同時分析40種元素

      3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

      4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率

      5.超高記數數字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩定系統

      6.標配基本參數法軟件,多任務,多窗口操作

      7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

       


      >儀器參數

      儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

      超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

      半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

      儀器重量: 48Kg

      元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

      可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

      探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

      探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

      處理器類型:全數字化DP-5分析器

      譜總通道數:4096

      X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

      光管窗口材料:鈹窗

      準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

      濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

      高壓發生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

      高壓參數:最小5kv可控調節,自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

      樣品觀察系統:500萬像素高清CCD攝像頭

      電壓:220ACV 50/60HZ

      環境溫度:-10 °C 35 °C

       




















      儀器配置

      >標準配置

      >可選配置

      Ag初始化標樣

      磨樣機

      真空泵

      壓片機

      礦石專用樣品杯 

      烘干箱

      USB數據線

      ESI-900XRF專用全自動熔樣機

      電源線

      電子秤

      測試薄膜

      礦石標準物質

      儀器出廠和標定報告

      交流凈化穩壓電源

      保修卡

      150目篩子

       

       

       








      全新設計的XTEST分析軟件

      軟件內核包括基本參數法FP),經驗系數法(EC,可輕松分析各類樣品。

      *光譜處理參數包括用于定義背景連續性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量

      *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質效應,增強和吸收。

      *譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

      *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數。

      *可以使用純基本參數方法,具有分散比的基本參數(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

      *基本參數分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。

       

      鋁土礦樣品10次連續測試穩定性報告

      樣品

      氧化鎂
      MgO

      三氧化二鋁
      Al2O3  

      二氧化硅
      SiO2

      氧化鉀
      K2O

      氧化鈣
      CaO

      二氧化鈦
      TiO2

      氧化錳
      MnO

      三氧化二鐵
      Fe2O3

      Sample-1

      0.438

      84.577

      8.754

      0.196

      0.502

      3.753

      0.049

      1.966

      Sample-2

      0.442

      84.853

      8.88

      0.197

      0.522

      3.799

      0.052

      1.962

      Sample-3

      0.424

      84.508

      8.81

      0.197

      0.509

      3.852

      0.051

      1.983

      Sample-4

      0.427

      84.537

      8.636

      0.196

      0.513

      3.777

      0.051

      1.963

      Sample-5

      0.424

      84.501

      8.709

      0.197

      0.503

      3.791

      0.05

      1.973

      Sample-6

      0.415

      84.496

      8.737

      0.2

      0.513

      3.861

      0.051

      2.013

      Sample-7

      0.45

      84.818

      8.917

      0.197

      0.511

      3.854

      0.051

      1.966

      Sample-8

      0.423

      84.577

      8.689

      0.201

      0.501

      3.838

      0.05

      1.971

      Sample-9

      0.447

      84.381

      8.74

      0.199

      0.495

      3.853

      0.05

      1.971

      Sample-10

      0.453

      84.753

      8.893

      0.201

      0.517

      3.793

      0.052

      1.981

      Average         平均值

      0.434

      84.6

      8.776

      0.198

      0.509

      3.817

      0.051

      1.975

      Standard Deviation
      標準偏差

      0.013

      0.155

      0.094

      0.002

      0.008

      0.039

      0.001

      0.015

      RSD
      相對標準偏差

      3.10%

      0.18%

      1.08%

      0.97%

      1.63%

      1.02%

      1.91%

      0.76%


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      • 聯系人:張經理
      • 地址:江蘇省蘇州工業園區唯新路69號一能科技園2幢407
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