Simply the Best 美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供輕元素檢測效果 無損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿 多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限 堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

Simply the Best 先進制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器 真空光路配備薄膜濾光片技術，提高輕元素檢出限 可同時分析40種元素 可分析固體，液體，粉末和泥漿 進口X光管管芯提供可靠樣品激發性能 無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結果） 無需化學試劑，無耗材，更環保，更高效

ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。 EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，廣泛應用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰

英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業（勘探、開采、品位控制），工業礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。其優異的線性動態范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。

英飛思EDX9000B配置了*基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析，無論是固體，合金，粉末，液體或者漿液，都可以輕松實現從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析，分析速度快，測試結果精確，儀器性能穩定。