XRF 礦產礦石專用分析儀

EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產/礦石分析專家

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業（勘探、開采、品位控制），工業礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。EDX9000B plus優異的線性動態范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等）都可達到最佳分析效果。

EDX9000B plus可以輕松完成對以下礦種的測試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)鋁土礦其它礦類

產品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析2.可同時分析40種元素3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率5.超高記數數字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩定系統6.標配基本參數法軟件，多任務，多窗口操作7.薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限礦產元素檢測專家EDX9000B Plus

>儀器參數

>儀器配置

全新設計的XTEST分析軟件

軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。*光譜處理參數包括用于定義背景連續性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正，即所有基質效應，增強和吸收。*譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。*可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。*基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。

鋁土礦樣品10次連續測試穩定性報告